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集合最快的数字测试、精确的模拟和射频测量资源,覆盖从最简单低端芯片到大规模复杂产品中所有的性能测试需求。测试板卡集成度高,创新性的每针测试能力,全测试处理器控制,不同测试资源分散管理配置,具有绝佳的灵活度,最佳的可重复性和简化程序创建,提供优秀的测试速度,极大减少测试时间,加快产品推向市场。
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